Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Selahattin Sayil - Libros - Springer International Publishing AG - 9783319888194 - 4 de septiembre de 2018
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Selahattin Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques Softcover reprint of the original 1st ed. 2018 edition

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The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 4 de septiembre de 2018
ISBN13 9783319888194
Editores Springer International Publishing AG
Páginas 93
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   184 g
Lengua Alemán  

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