Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics - Otwin Breitenstein - Libros - Springer International Publishing AG - 9783319998244 - 22 de enero de 2019
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Otwin Breitenstein
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Third Edition 2018 edition

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321 pages, 68 Illustrations, color; 55 Illustrations, black and white; XVIII, 321 p. 123 illus., 68

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 22 de enero de 2019
ISBN13 9783319998244
Editores Springer International Publishing AG
Páginas 321
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   657 g
Lengua Alemán  

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