Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach - NanoScience and Technology - Marin Alexe - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540206620 - 6 de abril de 2004
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Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach - NanoScience and Technology 2004 edition

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This book presents recent advances in the field of nanoscale characterization of ferroelectric materials using scanning probe microscopy (SPM).


282 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 6 de abril de 2004
ISBN13 9783540206620
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 282
Dimensiones 155 × 235 × 18 mm   ·   544 g
Lengua Alemán  
Editor Alexe, Marin
Editor Gruverman, Alexei

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