Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics - Mathias Schubert - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540232490 - 26 de noviembre de 2004
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Mathias Schubert
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics 2004 edition

Precio
Mex$ 4.703
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 27 de jul. - 12 de ago.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Mathias Schubert

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

También disponible como:

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.

196 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 26 de noviembre de 2004
ISBN13 9783540232490
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 196
Dimensiones 155 × 232 × 12 mm   ·   476 g
Lengua Inglés   Alemán  

Más del mismo editor

Ver todo de Mathias Schubert ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )