Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21 de febrero de 2006
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Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

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These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 21 de febrero de 2006
Fecha de lanzamiento original 2005
ISBN13 9783540262428
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 420
Dimensiones 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Lengua Alemán  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

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