Modeling and Simulation of Gate Mislaignment Effect in Mosfets - Sharma Rupendra Kumar - Libros - Scholars\' Press - 9783639708028 - 7 de julio de 2015
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Sharma Rupendra Kumar
Modeling and Simulation of Gate Mislaignment Effect in Mosfets

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Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 7 de julio de 2015
ISBN13 9783639708028
Editores Scholars\' Press
Páginas 156
Dimensiones 152 × 229 × 9 mm   ·   250 g
Lengua Alemán  

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