Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences - Sascha Sadewasser - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642225659 - 22 de octubre de 2011
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Sascha Sadewasser
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences 2012 edition

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Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

290 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 22 de octubre de 2011
ISBN13 9783642225659
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 334
Dimensiones 162 × 242 × 25 mm   ·   612 g
Lengua Alemán  
Editor Glatzel, Thilo
Editor Sadewasser, Sascha

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