Thin Film and Depth Profile Analysis - Topics in Current Physics - H Oechsner - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642465017 - 27 de marzo de 2012
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Thin Film and Depth Profile Analysis - Topics in Current Physics Softcover reprint of the original 1st ed. 1984 edition

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224 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 27 de marzo de 2012
ISBN13 9783642465017
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 208
Dimensiones 170 × 244 × 12 mm   ·   362 g
Lengua Alemán  
Editor Oechsner, H.

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