Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers - G Nther Bauer - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642796807 - 14 de diciembre de 2011
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Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers Softcover reprint of the original 1st ed. 1996 edition

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The characterization of epitaxial layers and their surfaces has benefitted a lot from the enormous progress of optical analysis techniques during the last decade.


429 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 14 de diciembre de 2011
ISBN13 9783642796807
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 429
Dimensiones 155 × 235 × 23 mm   ·   625 g
Lengua Alemán  
Editor Bauer, Gunther
Editor Richter, Wolfgang

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