J. Bourgoin
Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences J. Bourgoin Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition

Name: Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences
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Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences

J. Bourgoin

Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition

In introductory solid-state physics texts we are introduced to the concept of a perfect crystalline solid with every atom in its proper place.

295 pages, biography

Medios de comunicación	Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado	8 de diciembre de 2011
ISBN13	9783642818349
Editores	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas	295
Dimensiones	155 × 235 × 17 mm · 449 g
Lengua	Inglés