J. Bourgoin
Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences J. Bourgoin Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition

Name: Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences
Price: 1847 MXN
Availability: OutOfStock
Author: J. Bourgoin

Precio

Mex$ 1.847

sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 29 de jul. - 10 de ago.

Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de J. Bourgoin

Nuestros clientes opinan:

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores

Mejor valorado en Trustpilot

Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences

J. Bourgoin

Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition

In introductory solid-state physics texts we are introduced to the concept of a perfect crystalline solid with every atom in its proper place.

295 pages, biography

Medios de comunicación	Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado	8 de diciembre de 2011
ISBN13	9783642818349
Editores	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas	295
Dimensiones	155 × 235 × 17 mm · 449 g
Lengua	Inglés