Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM - Nobuo Tanaka - Libros - Springer Verlag, Japan - 9784431565000 - 10 de abril de 2017
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Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM 1st ed. 2017 edition


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In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook.


333 pages, 107 black & white illustrations, 22 colour illustrations, 10 colour tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 10 de abril de 2017
ISBN13 9784431565000
Editores Springer Verlag, Japan
Páginas 333
Dimensiones 241 × 162 × 27 mm   ·   825 g

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