Electron Nano-imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM - Nobuo Tanaka - Libros - Springer Verlag, Japan - 9784431569398 - 3 de agosto de 2024
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Electron Nano-imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM Second Edition 2024 edition


Recibe un correo electrónico cuando el artículo esté disponible
¿Tienes un perfil? Iniciar sesión
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Nobuo Tanaka
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

In this second edition, most chapters of the first edition, which published in 2017, have been revised and recent advancement of electron microscopy such as differential phase contrast (DPC) STEM, sparse-coding image processing and quantum electron microscopy have been supplemented with further details.

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 3 de agosto de 2024
ISBN13 9784431569398
Editores Springer Verlag, Japan
Páginas 384
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   839 g

Más del mismo editor