Development of a reference database for ion beam analysis - IAEA-TECDOC Series - International Atomic Energy Agency - Libros - IAEA - 9789201105158 - 14 de diciembre de 2015
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International Atomic Energy Agency
Development of a reference database for ion beam analysis - IAEA-TECDOC Series

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Ion beam analysis techniques are non-destructive analytical techniques used to identify the composition and provide elemental depth profiles in surface layers of materials. Their reliability and accuracy depends on our knowledge of the nuclear reaction cross sections. This publication describes the coordinated effort to measure, compile and evaluate cross section data relevant to these techniques.

226 pages, col. ill. figs, tables

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 14 de diciembre de 2015
ISBN13 9789201105158
Editores IAEA
Páginas 226
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   502 g   (Peso (estimado))

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