Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications - Springer Series in Advanced Microelectronics - Jacopo Franco - Libros - Springer - 9789400776623 - 29 de octubre de 2013
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Jacopo Franco
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications - Springer Series in Advanced Microelectronics 2014 edition

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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

206 pages, 219 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 29 de octubre de 2013
ISBN13 9789400776623
Editores Springer
Páginas 187
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   467 g
Lengua Inglés  

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