Saka, Hiroyasu (Aichi Institute of Technology, Japan & Nagoya University, Japan)
Practical Electron Microscopy of Lattice Defects Saka, Hiroyasu (Aichi Institute of Technology, Japan & Nagoya University, Japan)

Name: Practical Electron Microscopy of Lattice Defects
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Author: Saka, Hiroyasu (Aichi Institute of Technology, Japan & Nagoya University, Japan)

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Practical Electron Microscopy of Lattice Defects

Saka, Hiroyasu (Aichi Institute of Technology, Japan & Nagoya University, Japan)

300 pages

Medios de comunicación	Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado	26 de abril de 2021
ISBN13	9789811234699
Editores	World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Páginas	308
Dimensiones	150 × 220 × 20 mm · 585 g

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