Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - T. Serkan Kasirga - Libros - Springer Verlag, Singapore - 9789811553479 - 20 de mayo de 2020
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Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 2020 edition


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This book assesses the thermal feasibility of using materials with atomically thin layers such as graphene and the transition metal dichalcogenides family in electronics and optoelectronics applications.


50 pages, 21 Illustrations, color; 3 Illustrations, black and white; XV, 50 p. 24 illus., 21 illus.

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 20 de mayo de 2020
ISBN13 9789811553479
Editores Springer Verlag, Singapore
Páginas 50
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g

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