Fundamentals of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: a Lecture Notes Series - Reifenberger, Ronald (Purdue University, USA) - Libros - World Scientific Publishing Co Pte Ltd - 9789814630344 - 12 de noviembre de 2015
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Reifenberger, Ronald (Purdue University, USA)
Fundamentals of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: a Lecture Notes Series

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The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.

350 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 12 de noviembre de 2015
ISBN13 9789814630344
Editores World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Páginas 342
Dimensiones 158 × 238 × 23 mm   ·   614 g

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