X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films -  - Libros - Springer Nature Switzerland AG - 9789819659449 - 12 de agosto de 2025
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X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films

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The first chapter considers laboratory-based X-ray diffraction (XRD) methods: the indispensable X-ray characterization methods used for phase analysis, epitaxial relationship determination, advanced analytical and data fitting techniques, and grazing incidence diffraction.

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 12 de agosto de 2025
ISBN13 9789819659449
Editores Springer Nature Switzerland AG
Páginas 186
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   453 g
Editor Evans, Paul G.
Editor Sando, Daniel
Editor Valanoor, Nagarajan

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