Recomienda este artículo a tus amigos:
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems Santanu Chattopadhyay 1.º edición
Precio
Mex$ 748
sin IVA
Pedido desde almacén remoto
Entrega prevista 10 - 26 de ago.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Santanu Chattopadhyay
Nuestros clientes opinan:
Añadir a tu lista de deseos de iMusic
También disponible como:
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Santanu Chattopadhyay
This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips.
118 pages
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 30 de junio de 2020 |
| ISBN13 | 9780367607098 |
| Editores | Taylor & Francis Ltd |
| Páginas | 118 |
| Dimensiones | 150 × 220 × 10 mm · 172 g |
| Lengua | Inglés |
