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Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems Santanu Chattopadhyay 1.º edición
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Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Santanu Chattopadhyay
This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips.
118 pages, 10 Illustrations, black and white
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 25 de abril de 2018 |
| ISBN13 | 9780815378822 |
| Editores | Taylor & Francis Inc |
| Páginas | 118 |
| Dimensiones | 225 × 145 × 14 mm · 296 g |
| Lengua | Inglés |
