Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology - Tu, King-Ning (City University of Hong Kong) - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9781032470276 - 19 de enero de 2024
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Tu, King-Ning (City University of Hong Kong)
Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology

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In this invaluable resource for graduate students and practicing professionals, Tu and Liu provide a comprehensive account of electromigration and give a practical guide on how to manage its effects in microelectronic devices, especially newer devices that make use of 3D architectures.

184 pages, 5 Tables, black and white; 27 Line drawings, black and white; 38 Halftones, black and whi

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 19 de enero de 2024
ISBN13 9781032470276
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 132
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   640 g
Lengua Inglés  

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