Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology - Tu, King-Ning (City University of Hong Kong) - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9781032470283 - 25 de diciembre de 2025
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Tu, King-Ning (City University of Hong Kong)
Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology

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In this invaluable resource for graduate students and practicing professionals, Tu and Liu provide a comprehensive account of electromigration and give a practical guide on how to manage its effects in microelectronic devices, especially newer devices that make use of 3D architectures.

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 25 de diciembre de 2025
ISBN13 9781032470283
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 132
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   260 g
Lengua Inglés  

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