Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156 - MRS Proceedings - Martin Gall - Libros - Cambridge University Press - 9781107408319 - 5 de junio de 2014
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Martin Gall
Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156 - MRS Proceedings

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The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

204 pages, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 5 de junio de 2014
ISBN13 9781107408319
Editores Cambridge University Press
Páginas 204
Dimensiones 152 × 229 × 11 mm   ·   433 g   (Peso (estimado))
Lengua Inglés  
Editor Gall, Martin
Editor Grill, Alfred (IBM T J Watson Research Center, New York)
Editor Koike, Junichi (Tohoku University, Japan)
Editor Lacopi, Francesca
Editor Usui, Takamasa

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