Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation - Norbert Seifert - Libros - now publishers Inc - 9781601983947 - 27 de noviembre de 2010
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Norbert Seifert
Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation

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A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.

136 pages

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 27 de noviembre de 2010
ISBN13 9781601983947
Editores now publishers Inc
Páginas 136
Dimensiones 157 × 234 × 8 mm   ·   199 g
Lengua Inglés  

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