CMOS Plasma and Process Damage - Kirk Prall - Libros - Springer International Publishing AG - 9783031890284 - 17 de mayo de 2025
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CMOS Plasma and Process Damage


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Readers will learn how plasma and process damage results from the high-energy processes that are used in chip manufacturing, causing harm to the chips, functional failure and reliability problems.

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 17 de mayo de 2025
ISBN13 9783031890284
Editores Springer International Publishing AG
Páginas 466
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   891 g
Lengua Alemán  

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