Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology - - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540850380 - 4 de noviembre de 2008
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition

Precio
Mex$ 2.681
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 29 de jun. - 9 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.

279 pages, 14 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 4 de noviembre de 2008
ISBN13 9783540850380
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 224
Dimensiones 162 × 244 × 16 mm   ·   498 g
Lengua Francés  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver