Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology - - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642098703 - 22 de noviembre de 2010
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Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

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Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.

279 pages, 14 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 22 de noviembre de 2010
ISBN13 9783642098703
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 224
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   429 g
Lengua Alemán  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

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