Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642203282 - 28 de septiembre de 2011
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Hui Xie
Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2011 edition

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The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

360 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 28 de septiembre de 2011
ISBN13 9783642203282
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 344
Dimensiones 155 × 235 × 25 mm   ·   612 g
Lengua Francés  

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