Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642445019 - 26 de noviembre de 2014
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Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2012 edition

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The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.


344 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 26 de noviembre de 2014
ISBN13 9783642445019
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 344
Dimensiones 155 × 235 × 19 mm   ·   503 g
Lengua Inglés  

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